пер. Декабристов 16

1. Система «R-AXIS RAPID» Rigaku - Единственный в России монокристальный дифрактометр с изогнутым двухмерным детектором «imaging plate» и высокоэнергетическим источником рентгеновского излучения с вращающимся анодом. Благодаря высокой плотности пучка (8×1010 фот/мм²/с) его называют «домашним синхротроном». Возможность анализа образцов размером от 10 микрон делает эту систему идеальной для неразрушающей идентификации малых частиц в различных образцах. Прибор предназначен для самых требовательных приложений, в том числе изучения плотности заряда, сложных двойников и исследования диффузного рассеяния, измерения слабо дифрагирующих неупорядоченных материалов, измерения напряжений в микроструктурах.

• Материалы анода: система «вращающийся анод» – MoKα, CoKα;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: изогнутый детектор типа Image Plate;
• Скорость считывания информации с детектора: 52 с;
• Скорость стирания обнуления детектора: 20с;
• Геометрия съемки: 3-кружный гониометр;
• Низкотемпературная система Oxford Cobra Plus с температурным диапазоном 80 – 500 K
• Мощность источников рентгеновского излучения: 3 кВт.

2. Монокристальный дифрактометр «Kappa APEX DUO» Bruker с двумя различными источниками рентгеновского излучения и плоским детектором, предназначенный для прецизионного исследования монокристаллов с большими ячейками, в том числе, биологических макромолекулярных структур.

• Материалы анода: микрофокусные источники излучения – MoKα, CuKα;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: APEX II типа CCD (Charge-Coupled Device);
• Геометрия съемки: 4-х кружный KAPPA гониометр;
• Максимальный угловой диапазон по 2θ: 145о и 135о для молибденового и медного анодов, соответственно.
• Низкотемпературная система Oxford Cobra Plus с температурным диапазоном 80–500 K
• Режим работы генератора: 50 кВ/0.6 мА.

3. Дифрактометр высокого разрешения «Ultima IV» Rigaku с низкотемпературной, высокотемпературной приставками и автономной системой дифференциально-сканирующей калориметрии для исследования термических преобразований кристаллических веществ и материалов в диапазоне рабочих температур от 93K до +1773 K.

• Материал анода: стандартная керамическая отпаянная рентгеновская трубка – CuKα;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: высокоскоростной энергодисперсионный детектор DTEX/ULTRA;
• Вертикальный Theta / Theta гониометр, радиус 285 мм;
• Приставка для вращения образца;
• Высокотемпературная приставка (диапазон температур: от комнатной до 1500оС);
• Приставка для низких/средних температур(-180 - 300оС);
• Режим работы генератора: 40 кВ /35 мА;

4. Дифрактометр высокого разрешения «Ultima IV» Rigaku с кобальтовым анодом для прецизионного определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических и керамических, материалов, в том числе, с высоким содержанием железа.

• Материал анода: стандартная керамическая отпаянная рентгеновская трубка – CoKα;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: высокоскоростной энергодисперсионный  DTEX/ULTRA;
• Вертикальный Theta / Theta гониометр, радиус 185 мм;
• Приставка для вращения образца;
• Режим работы генератора: 40 кВ /35 мА;

5. Два настольных порошковых дифрактометра «D2 Phaser»  Bruker  для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1600 с медным и кобальтовым анодом.

• Детектор отраженных рентгеновских лучей: линейный детектор LYNXEYE;
• Геометрия съемки: Theta / Theta;
• Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 160о;
• Точность определения положения пика: ± 0.02о во всем измерительном диапазоне;
• Минимальная ширина пика: < 0.05о;
• Режим работы генератора: 30 кВ/10 мА.

6. Настольные порошковые дифрактометры учебной лаборатории  «RIGAKU MiniFlex II»   предназначены  для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1450.

• Детектор отраженных рентгеновских лучей - высокоскоростной энергодисперсионный DTEX/ULTRA;
• Геометрия съемки: Theta / 2Theta;
• Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 145о;
• Режим работы генератора: 30 кВ/15 мА.

Университетский пр. д.26, корпус Д1, первый этаж

1. Система «D8 DISCOVER» Bruker - дифрактометр высокого разрешения разработан для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения. Bruker D8 Discover идеально подходит для применений в области нанотехнологий. Благодаря ультрасовременной и весьма совершенной оптической системе он позволяет получать подробную и точную информацию о структуре аморфных, моно- и поликристаллических тонких пленок толщиной всего несколько нанометров, изучать структуру поверхности и прослеживать структурные изменения вглубь образца, проводить неразрушающий контроль качества (совершенства) массивных промышленных монокристаллов для электроники и оптики, а также обнаруживать дефекты в наноразмерных кристаллах катализаторов.

• Материал анода: стандартная керамическая отпаянная рентгеновская трубка – CuKα;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: линейный детектор LYNXEYE;
• Максимальный угловой диапазон по 2θ: -110о – 168о;
• Минимальный шаг сканирования по 2θ: 0.0001о;
• Максимальная скорость съемки: 20о/s;
• Диаметр гониометра: 500 – 1080 мм;
• Режим работы генератора: 50 кВ/40 мА.

2. Монокристальный дифрактометр «Supernova» Oxford Diffraction с двумя источниками рентгеновского излучения предназначен для исследования монокристаллов, в том числе, макромолекулярных структур, а также малых  кристаллов. Дифрактометр оборудован системой температурного контроля образца для исследований в  интервале температур от 80 до 500 К.

• Материалы анода: микрофокусные источники излучения – MoKα, CuKα;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: Atlas типа CCD (Charge-Coupled Device);
• Геометрия съемки: 4-х кружный KAPPA гониометр;
• Максимальный угловой диапазон по 2θ: 145о и 135о для молибденового и медного анодов, соответственно.
• Низкотемпературная система Oxford Cryostream Plus с температурным диапазоном 80 – 500K
• Мощность источников рентгеновского излучения - 50 Вт.

3. Монокристальный дифрактометр «Xcalibur» Oxford Diffraction предназначен для исследования монокристаллов в  интервале температур от 80 до 500 К.

• Материал анода: длиннофокусная керамическая рентгеновская трубка – MoKα;
• Детектор отраженных рентгеновских лучей: EOS типа CCD (Charge-Coupled Device);
• Геометрия съемки: 4-х кружный KAPPA гониометр;
• Низкотемпературная система Oxford Cryostream Plus с температурным диапазоном 80 – 500 K;
• Режим работы генератора: 50 кВ/40 мА.

4. Два настольных порошковых дифрактометра «D2 Phaser» Bruker  для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1600 с медным и кобальтовым анодом.

• Детектор отраженных рентгеновских лучей: линейный детектор LYNXEYE;
• Геометрия съемки: Theta / Theta;
• Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 160о;
• Точность определения положения пика: ± 0.02о во всем измерительном диапазоне;
• Минимальная ширина пика: < 0.05о;
• Режим работы генератора: 30 кВ/10 мА.

5. Настольные порошковые дифрактометры учебной лаборатории  «RIGAKU MiniFlex II»   предназначены  для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1450 .

• Детектор отраженных рентгеновских лучей - высокоскоростной энергодисперсионный DTEX/ULTRA;
• Геометрия съемки: Theta / 2Theta;
• Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 145о;
• Режим работы генератора: 30 кВ/15 мА.