Оборудование РЦ «Рентген-дифракционные методы исследования»
Автор В Высокопроизводительные ресурсы-
пер. Декабристов 161. Система «R-AXIS RAPID» Rigaku - Единственный в России монокристальный дифрактометр с изогнутым двухмерным детектором «imaging plate» и высокоэнергетическим источником рентгеновского излучения с вращающимся анодом. Благодаря высокой плотности пучка (8×1010 фот/мм²/с) его называют «домашним синхротроном». Возможность анализа образцов размером от 10 микрон делает эту систему идеальной для неразрушающей идентификации малых частиц в различных образцах. Прибор предназначен для самых требовательных приложений, в том числе изучения плотности заряда, сложных двойников и исследования диффузного рассеяния, измерения слабо дифрагирующих неупорядоченных материалов, измерения напряжений в микроструктурах.
- Материалы анода: система «вращающийся анод» – MoKα, CoKα;
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: изогнутый детектор типа Image Plate;
- Скорость считывания информации с детектора: 52 с;
- Скорость стирания обнуления детектора: 20с;
- Геометрия съемки: 3-кружный гониометр;
- Низкотемпературная система Oxford Cobra Plus с температурным диапазоном 80 – 500 K
- Мощность источников рентгеновского излучения: 3 кВт.
2. Монокристальный дифрактометр «Kappa APEX DUO» Bruker с двумя различными источниками рентгеновского излучения и плоским детектором, предназначенный для прецизионного исследования монокристаллов с большими ячейками, в том числе, биологических макромолекулярных структур.
- Материалы анода: микрофокусные источники излучения – MoKα, CuKα;
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: APEX II типа CCD (Charge-Coupled Device);
- Геометрия съемки: 4-х кружный KAPPA гониометр;
- Максимальный угловой диапазон по 2θ: 145о и 135о для молибденового и медного анодов, соответственно.
- Низкотемпературная система Oxford Cobra Plus с температурным диапазоном 80–500 K
- Режим работы генератора: 50 кВ/0.6 мА.
3. Дифрактометр высокого разрешения «Ultima IV» Rigaku с низкотемпературной, высокотемпературной приставками и автономной системой дифференциально-сканирующей калориметрии для исследования термических преобразований кристаллических веществ и материалов в диапазоне рабочих температур от 93K до +1773 K.
- Материал анода: стандартная керамическая отпаянная рентгеновская трубка – CuKα;
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: высокоскоростной энергодисперсионный детектор DTEX/ULTRA;
- Вертикальный Theta / Theta гониометр, радиус 285 мм;
- Приставка для вращения образца;
- Высокотемпературная приставка (диапазон температур: от комнатной до 1500оС);
- Приставка для низких/средних температур(-180 - 300оС);
- Режим работы генератора: 40 кВ /35 мА;
4. Дифрактометр высокого разрешения «Ultima IV» Rigaku с кобальтовым анодом для прецизионного определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических и керамических, материалов, в том числе, с высоким содержанием железа.
- Материал анода: стандартная керамическая отпаянная рентгеновская трубка – CoKα;
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: высокоскоростной энергодисперсионный DTEX/ULTRA;
- Вертикальный Theta / Theta гониометр, радиус 185 мм;
- Приставка для вращения образца;
- Режим работы генератора: 40 кВ /35 мА;
5. Два настольных порошковых дифрактометра «D2 Phaser» Bruker для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1600 с медным и кобальтовым анодом.
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: линейный детектор LYNXEYE;
- Геометрия съемки: Theta / Theta;
- Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 160о;
- Точность определения положения пика: ± 0.02о во всем измерительном диапазоне;
- Минимальная ширина пика: < 0.05о;
- Режим работы генератора: 30 кВ/10 мА.
6. Настольные порошковые дифрактометры учебной лаборатории «RIGAKU MiniFlex II» предназначены для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1450.
- Детектор отраженных рентгеновских лучей - высокоскоростной энергодисперсионный DTEX/ULTRA;
- Геометрия съемки: Theta / 2Theta;
- Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 145о;
- Режим работы генератора: 30 кВ/15 мА.
-
Университетский пр. д.26, корпус Д1, первый этаж1. Система «D8 DISCOVER» Bruker - дифрактометр высокого разрешения разработан для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения. Bruker D8 Discover идеально подходит для применений в области нанотехнологий. Благодаря ультрасовременной и весьма совершенной оптической системе он позволяет получать подробную и точную информацию о структуре аморфных, моно- и поликристаллических тонких пленок толщиной всего несколько нанометров, изучать структуру поверхности и прослеживать структурные изменения вглубь образца, проводить неразрушающий контроль качества (совершенства) массивных промышленных монокристаллов для электроники и оптики, а также обнаруживать дефекты в наноразмерных кристаллах катализаторов.
- Материал анода: стандартная керамическая отпаянная рентгеновская трубка – CuKα;
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: линейный детектор LYNXEYE;
- Максимальный угловой диапазон по 2θ: -110о – 168о;
- Минимальный шаг сканирования по 2θ: 0.0001о;
- Максимальная скорость съемки: 20о/s;
- Диаметр гониометра: 500 – 1080 мм;
- Режим работы генератора: 50 кВ/40 мА.
2. Монокристальный дифрактометр «Supernova» Oxford Diffraction с двумя источниками рентгеновского излучения предназначен для исследования монокристаллов, в том числе, макромолекулярных структур, а также малых кристаллов. Дифрактометр оборудован системой температурного контроля образца для исследований в интервале температур от 80 до 500 К.
- Материалы анода: микрофокусные источники излучения – MoKα, CuKα;
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: Atlas типа CCD (Charge-Coupled Device);
- Геометрия съемки: 4-х кружный KAPPA гониометр;
- Максимальный угловой диапазон по 2θ: 145о и 135о для молибденового и медного анодов, соответственно.
- Низкотемпературная система Oxford Cryostream Plus с температурным диапазоном 80 – 500K
- Мощность источников рентгеновского излучения - 50 Вт.
3. Монокристальный дифрактометр «Xcalibur» Oxford Diffraction предназначен для исследования монокристаллов в интервале температур от 80 до 500 К.
- Материал анода: длиннофокусная керамическая рентгеновская трубка – MoKα;
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: EOS типа CCD (Charge-Coupled Device);
- Геометрия съемки: 4-х кружный KAPPA гониометр;
- Низкотемпературная система Oxford Cryostream Plus с температурным диапазоном 80 – 500 K;
- Режим работы генератора: 50 кВ/40 мА.
4. Два настольных порошковых дифрактометра «D2 Phaser» Bruker для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1600 с медным и кобальтовым анодом.
- Детектор отраженных рентгеновских лучей: линейный детектор LYNXEYE;
- Геометрия съемки: Theta / Theta;
- Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 160о;
- Точность определения положения пика: ± 0.02о во всем измерительном диапазоне;
- Минимальная ширина пика: < 0.05о;
- Режим работы генератора: 30 кВ/10 мА.
5. Настольные порошковые дифрактометры учебной лаборатории «RIGAKU MiniFlex II» предназначены для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов в диапазоне углов отражения до + 1450 .
- Детектор отраженных рентгеновских лучей - высокоскоростной энергодисперсионный DTEX/ULTRA;
- Геометрия съемки: Theta / 2Theta;
- Максимальный угловой диапазон по 2θ: -3о – 145о;
- Режим работы генератора: 30 кВ/15 мА.